Artículo:

Blind identification of manufacturing variation patterns by combining source separation criteria

Autor:

Xuemei Shan

Daniel W. Apley

Página:

332

Publicación:

Technometrics

Volúmen:

50

Número:

3

Periodo:

Agosto 2008

ISSN:

00401706

SrcID:

00401706-2008-08.txt