- Artículo:
Length Bias in the Measurements of Carbon Nanotubes
- Autor:
Kvam, Paul
- Resumen:
To measure carbon nanotube lengths, atomic force microscopy and special software are used to identify and measure nanotubes on a square grid
- Página:
462
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
50
- Número:
4
- Periodo:
Noviembre 2008
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-2008-04.txt
- Documento número 540643
- Actualizado el martes, 10 de julio de 2018 10:14:00 a. m.
- Creado el martes, 10 de julio de 2018 10:14:00 a. m.
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