- Artículo:
Measurement System Analysis for Binary Data
- Autor:
van Wieringen, Wessel N.
De Mast, Jeroen
- Resumen:
We describe a methodology for the assessment of the repeatability and reproducibility (R&R) of measurement systems that measure on a binary scale, such as pass-fail inspections
- Página:
468
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
50
- Número:
4
- Periodo:
Noviembre 2008
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-2008-04.txt
- Documento número 540644
- Actualizado el martes, 10 de julio de 2018 10:14:01 a. m.
- Creado el martes, 10 de julio de 2018 10:14:01 a. m.
- Enlace directo
