- Artículo:
Test run
- Autor:
James Newkirk
James McCaffrey
- Resumen:
Test harness design patterns
- Página:
105
- Publicación:
MSDN Microsoft Journal For Developers, The
- Volúmen:
20
- Número:
8
- Periodo:
August 2005
- ISSN:
15284859
- SrcID:
15284859-2005-08.txt
- Documento número 844954
- Actualizado el martes, 10 de julio de 2018 10:50:18 a. m.
- Creado el martes, 10 de julio de 2018 10:50:18 a. m.
- Enlace directo
